Uniwersytet Zielonogórski Baza Aparatury Naukowej UZ

Strona głównaMapa serwisuUwagi
 


 
Strona głowna > Wydział Mechaniczny > Instytut Budowy i Eksploatacji Maszyn

Skaningowy Mikroskop Elektronowy z Emisją Polową JEOL 7600F

Skaningowy Mikroskop Elektronowy z Emisją Polową JEOL 7600F

JEOL JSM- 7600F  jest wysokiej klasy mikroskopem elektronowym  z emisja polową umożliwiającym obserwację ciał stałych w wysokiej rozdzielczości z dużym powiększeniem.

Zakres powiększeń :

  • niski : 25x do 19.000x
  • wysoki: 100x do 1.000.000x

Zmiany napięcia przyspieszającego w zakresie:

  • 100V ( punktowa rozdzielczość 1.5 nm)
  • 30 kV (punktowa rozdzielczość 0.8 nm).

Mikroskop umożliwia detekcję elektronów: wtórnych ( In- lens- SEI, below- the- lens- LEI), odbitych (Low Angle Backscatter Detector - LABe) za pomocą standardowych wymienionych detektorów, dodatkowo elektrony są wykrywane przez r-Filter idealny do obserwacji próbek nie przewodzących. Posiada również opcję Gentle Beam (GB) zwalniania wiązki do 100V przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości. Maksymalne wymiary próbki : przekątna/ średnica 10mm, wysokość  20 mm. Mikroskop jest wyposażony w zestaw pomp umożliwiających obserwację w wysokiej bardzo wysokiej i czystej próżni.

 
Mikroskop wyposażony jest w spektrometr dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, który umożliwia analizę punktowa, liniowa oraz mapping w celu określenia składu jakościowego i procentowego pierwiastków.





   Uniwersytet Zielonogórski (C) 2009-2010 .:. D&C by: JARY