JEOL JSM- 7600F jest wysokiej klasy mikroskopem elektronowym z emisja polową umożliwiającym obserwację ciał stałych w wysokiej rozdzielczości z dużym powiększeniem.
Zakres powiększeń :
- niski : 25x do 19.000x
- wysoki: 100x do 1.000.000x
Zmiany napięcia przyspieszającego w zakresie:
- 100V ( punktowa rozdzielczość 1.5 nm)
- 30 kV (punktowa rozdzielczość 0.8 nm).
Mikroskop umożliwia detekcję elektronów: wtórnych ( In- lens- SEI, below- the- lens- LEI), odbitych (Low Angle Backscatter Detector - LABe) za pomocą standardowych wymienionych detektorów, dodatkowo elektrony są wykrywane przez r-Filter idealny do obserwacji próbek nie przewodzących. Posiada również opcję Gentle Beam (GB) zwalniania wiązki do 100V przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości. Maksymalne wymiary próbki : przekątna/ średnica 10mm, wysokość 20 mm. Mikroskop jest wyposażony w zestaw pomp umożliwiających obserwację w wysokiej bardzo wysokiej i czystej próżni.
Mikroskop wyposażony jest w spektrometr dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, który umożliwia analizę punktowa, liniowa oraz mapping w celu określenia składu jakościowego i procentowego pierwiastków.